- HRTEM ile inceleme (Atomik latis görüntüleme, EDS analizi: nokta,çizgi,haritalama; Difraksiyon paterni çekimi)
- TEM ile inceleme (Genel görüntüleme (BF,DF), Difraksiyon paterni çekimi)
- FEG-SEM ile inceleme (Yüksek çözünürlüklü görüntüleme, EDS analizi: nokta,çizgi,haritalama, EBSD)
- LV-SEM ile inceleme (SE, BSE, LV görüntüleme)
- AFM ile inceleme (temaslı, temassız, STM, MFM, EFM)
- HRTEM için numune hazırlama (Metal ve seramik malzemeler için: iyonla parlatma (PIPS), kesitten numune hazırlama, toz)
- TEM için numune hazırlama (Metaller için: elektrolitik parlatma, replika)
- SEM için numune hazırlama (Kaplama: Platin, altın-paladyum, altın, karbon rod, karbon fiber, kırık yüzey, toz)
