X-Işınları Laboratuvarı

-A +A

X-Işınları Difraktometre ve Spektrometre Laboratuarlarında bulunan 2 adet X-Işını Difraktometre cihazı, 3 adet X-Işını Floresan Spektrometre cihazı ve 1 adet Optik Emisyon Spektrometre cihazı ile ürün kalite kontrol ve proses gelişiminin izlenebilmesine yönelik, organik/inorganik malzemelerde kalitatif (nitel)/kantitatif (nicel) analizler gerçekleştirilmektedir.

X-Işını Difraktometre (XRD) sistemi ile; inorganik katı malzemelerin kalitatif ve kantitatif faz (mineralojik) içeriği, amorf faz miktarı, kristalit boyutu, sıcaklığa bağlı olarak malzemenin yapısında meydana gelen mineralojik değişiklikler, altlık üzerine kaplanmış ince film kaplamalarının mineralojik içeriği, kalınlığı, yoğunluğu ve yüzey pürüzlülüğü, üretim esnasında bilerek oluşturulan veya kendiliğinden oluşan tekstür, malzemenin yapısında bulunan ve kullanım esnasında bozulmalara yol açabilecek kalıntı gerilmeleri tespit edilebilmektedir.

X-Işını Floresan Spektrometre (XRF) sistemi ile; katı haldeki (kütle veya preslenmiş toz) malzemelerin element içerikleri kalitatif, yarı kantitatif-standartsız ve tam kantitatif olarak belirlenebilmektedir. Ayrıca; “Sağlığa Zararlı Maddelerin Kullanımının Kısıtlanması (RoHS)” direktifine uygun olarak, plastik, tekstil ve metalik malzemelerde yasaklı elementler (Cr+6, Pb, Cd, Hg, PBB ve PBDE) tespit edilebilmektedir.

Optik Emisyon Spektrometre (OES) sistemi ile; alüminyum, demir, magnezyum ve bakır esaslı alaşımların element içerikleri kantitatif (nicel) olarak belirlenmektedir.

İlgili Endüstri: Seramik, metal, kompozit, kaplamalar, yarıiletkenler, veri depolayıcılar, elektronik, enerji, döküm, plastik, tekstil, optik, ilaç, biyomalzemeler, arkeoloji, jeoloji, çimento, madencilik, makine, fotonik ve telekomünikasyon alanlarında sıkça kullanılmaktadır.